電子元器件失效率試驗(yàn)的種類都有哪些？來(lái)了解一下。

電子元器件失效率是考核其壽命或可靠性水平的一種定量的指標(biāo)。電子元器件的可靠性試驗(yàn)就是電子元器件的失效率試驗(yàn)。為確定產(chǎn)品的失效率而進(jìn)行的壽命試驗(yàn)稱為失效率試驗(yàn)。

這種試驗(yàn)主要用于其壽命能合理地認(rèn)為是服從指數(shù)分布，在本質(zhì)上是同一設(shè)計(jì)，建立了可靠性與質(zhì)量管理的批量產(chǎn)品和連續(xù)生產(chǎn)的產(chǎn)品。

就是說(shuō)，用這種方法對(duì)產(chǎn)品的失效率進(jìn)行驗(yàn)證時(shí)，生產(chǎn)管理應(yīng)該是嚴(yán)格的，生產(chǎn)過(guò)程比較穩(wěn)定，生產(chǎn)批次之間變化較小。

這樣，在累積數(shù)據(jù)的前提下，可以逐步保證產(chǎn)品有較高的可靠度等級(jí)。通常失效率試驗(yàn)分為定級(jí)試驗(yàn)、維持試驗(yàn)、升級(jí)試驗(yàn)三種。

1、定級(jí)試驗(yàn)

為首次確定產(chǎn)品的失效率等級(jí)而作的試驗(yàn)，或在某一失效率等級(jí)的維持和升級(jí)試驗(yàn)失敗后，對(duì)產(chǎn)品重新確定其失效率等級(jí)而進(jìn)行的試驗(yàn)稱為定級(jí)試驗(yàn)。

2、維持試驗(yàn)

為證明產(chǎn)品的失效率等級(jí)仍不低于定級(jí)試驗(yàn)或升級(jí)試驗(yàn)后所確定的失效率等級(jí)而進(jìn)行的試驗(yàn)稱為維持試驗(yàn)。

3、升級(jí)試驗(yàn)

為證明產(chǎn)品的失效率等級(jí)比原定的失效率等級(jí)更高而進(jìn)行的試驗(yàn)稱為升級(jí)試驗(yàn)。