為什么要做低溫試驗(yàn)？目的是什么？據(jù)了解，低溫試驗(yàn)主要用于評(píng)價(jià)產(chǎn)品在儲(chǔ)存、工作和拆裝操作期間，低溫條件對(duì)裝備在安全性、完整性和性能的影響。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于低溫的溫度和暴露持續(xù)時(shí)間。

主要用于科研研究、醫(yī)遼用品的保存、生物制品、遠(yuǎn)洋制品、電子元件、化工材料等特殊材料的低溫實(shí)驗(yàn)及儲(chǔ)存。

低溫試驗(yàn)CNAS檢測(cè)檢測(cè)：

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)A:低溫 GB/T 2423.1-2008

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法 IEC 60068-2-1：2007

低溫試驗(yàn)檢測(cè)說(shuō)明：

只測(cè)： 高低溫濕度試驗(yàn)箱（TH1200D），溫度 ≥-70℃，容積小于1.13m×1m×1.02m；步入式溫濕度試驗(yàn)箱（WTH-15m3-40W），溫度 ≥-40℃，容積小于3m×2.5m×2m。

只測(cè)： 高低溫濕度試驗(yàn)箱（TH1200D），溫度 ≥-70℃，容積小于1.13m×1m×1.02m；步入式溫濕度試驗(yàn)箱（WTH-15m3-40W），溫度 ≥-40℃，容積小于3m×2.5m×2m。

低溫是一個(gè)怎樣的測(cè)試？哪家第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)可以做低溫測(cè)試？是否能出具CNAS檢驗(yàn)報(bào)告？

什么情況下需要做低溫測(cè)試？據(jù)悉，對(duì)于暴露于低溫環(huán)境的產(chǎn)品，可能會(huì)改變材料里的特性，抑或?qū)ぷ餍阅茉斐蓵簳r(shí)或永久性的損害，因此，只要產(chǎn)品暴露于低于標(biāo)準(zhǔn)大氣條件的溫度下，就需要考慮做低溫測(cè)試。

測(cè)試委托方在做低溫測(cè)試時(shí)，可把具體的測(cè)試要求、如測(cè)試溫度以及測(cè)試時(shí)長(zhǎng)、測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)等告訴第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)，讓檢測(cè)工程師嚴(yán)格按照檢測(cè)要求來(lái)對(duì)樣品進(jìn)行相關(guān)測(cè)試

檢測(cè)項(xiàng)目：低溫試驗(yàn)

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)A:低溫 GB/T 2423.1-2008

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法 IEC 60068-2-1：2007