日立X-Strata920鍍層測厚儀

使用X射線熒光(XRF)進行的鍍層厚度測量是經(jīng)過證明的快速的無損分析技術(shù)，X-Strata920設(shè)計為面向電子產(chǎn)品和金屬表面 處理，測量單層和多鍍層(包括合金層)，應(yīng)用專家對 X-Strata920 進行了進一步升級， 確保獲得可靠、可重復(fù)結(jié)果，滿足數(shù)百種應(yīng)用，包括 PCB 表面處理、連接器鍍層、耐腐蝕處理、裝飾表面 處理、耐磨損處理、耐高溫處理等。

X-Strata920這一出色的工具可確保樣品符合規(guī)格，同時通過避免過度電鍍和返工來降低成本。操作員只需加載樣品，將其定位在屏幕上的目標(biāo)下方，使用激光焦點對齊，即可開始測量。結(jié)果在幾秒內(nèi)即可顯示出來，然后操作員可快速執(zhí)行下一個任務(wù)。得益于通過可追溯標(biāo)準打造的優(yōu)化校準方式，您將對結(jié)果的準確性充滿信心。

使用X-Strata920可遵從各種行業(yè)規(guī)范，如IPC-4552A、ISO 3497、ASTM B568 和 DIN 50987。