Bruker 探針式表面輪廓儀（臺階儀）DektakXT
(一)、概述布魯克DektakXT （探針式表面輪廓儀）設計創(chuàng)新，實現(xiàn)了更高的重復性和分辨率，垂直高度重復性<5?。這一里程碑式的產(chǎn)品源自于Dektak系列占據(jù)業(yè)界ling xian地位長達四十年的優(yōu)異表面測量技術。實現(xiàn)了納米尺度的表面輪廓測量，在微電子、半導體、太陽能、高亮度LED、觸摸屏、醫(yī)療、科學研究和材料科學領域大顯身手。
臺階高度重復性優(yōu)于5埃（<5 ?）
· 單拱龍門式設計實現(xiàn)了突破性的掃描穩(wěn)定性
· 先進的”智能化電子器件”實現(xiàn)了低噪聲的新標桿
操作簡便，高效易用
· 直觀化的Vision64TM軟件簡化了用戶界面的操作過程
· 獨特的傳感器設計使得在單一平臺上即可實現(xiàn)超微力和較大的力測量
· 自對準的探針設計使用戶可以輕而易舉地更換探針
探針式輪廓儀的全球ling 導 zhe
· 性能卓越，物超所值
· 完備的零配件為您優(yōu)化或延伸機臺的多種應用提供保障
過去四十年間，世界范圍內(nèi)有上萬臺Dektak系列產(chǎn)品應用于各個領域，廣泛用于膜厚、應力、表面粗糙度和面形的測量。它們以優(yōu)質(zhì)、可靠、高效等特性廣受贊譽。
(三)、性能：設計*、性能卓著臺階儀性能優(yōu)劣取決于以下三個方面：測試重復性、測試速度以及操作難易程度。這些因素決定了實驗數(shù)據(jù)的質(zhì)量和實驗操作的效率。DektakXT采用全新的儀器系統(tǒng)構造和*化的測量以及數(shù)據(jù)處理軟件來實現(xiàn)可靠、快速和簡單的樣品檢測，達到*的儀器使用效果。
優(yōu)異的測試重復性l DektakXT?探針輪廓儀ling xian的設計保證了其優(yōu)異的性能，測量重復性達到5埃以下。
l 使用單拱龍門式設計比之前的懸臂梁設計更堅固持久不易損壞，大大降低了周圍環(huán)境中聲音和震動噪聲對測試信號的影響。
l 布魯克完善了儀器的智能化電子器件，提高了工作性能的穩(wěn)定性，降低了溫度變化對器件的影響；系統(tǒng)和環(huán)境噪音引起的測量誤差降低到最小。
