Bruker 探針式表面輪廓儀（臺階儀）DektakXT
(一)、概述布魯克DektakXT （探針式表面輪廓儀）設(shè)計(jì)創(chuàng)新，實(shí)現(xiàn)了更高的重復(fù)性和分辨率，垂直高度重復(fù)性<5?。這一里程碑式的產(chǎn)品源自于Dektak系列占據(jù)業(yè)界ling xian地位長達(dá)四十年的優(yōu)異表面測量技術(shù)。實(shí)現(xiàn)了納米尺度的表面輪廓測量，在微電子、半導(dǎo)體、太陽能、高亮度LED、觸摸屏、醫(yī)療、科學(xué)研究和材料科學(xué)領(lǐng)域大顯身手。
臺階高度重復(fù)性優(yōu)于5埃（<5 ?）
· 單拱龍門式設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)了突破性的掃描穩(wěn)定性
· 先進(jìn)的”智能化電子器件”實(shí)現(xiàn)了低噪聲的新標(biāo)桿
操作簡便，高效易用
· 直觀化的Vision64TM軟件簡化了用戶界面的操作過程
· 獨(dú)特的傳感器設(shè)計(jì)使得在單一平臺上即可實(shí)現(xiàn)超微力和較大的力測量
· 自對準(zhǔn)的探針設(shè)計(jì)使用戶可以輕而易舉地更換探針
探針式輪廓儀的全球ling 導(dǎo) zhe
· 性能卓越，物超所值
· 完備的零配件為您優(yōu)化或延伸機(jī)臺的多種應(yīng)用提供保障
過去四十年間，世界范圍內(nèi)有上萬臺Dektak系列產(chǎn)品應(yīng)用于各個(gè)領(lǐng)域，廣泛用于膜厚、應(yīng)力、表面粗糙度和面形的測量。它們以優(yōu)質(zhì)、可靠、高效等特性廣受贊譽(yù)。
(三)、性能：設(shè)計(jì)*、性能卓著臺階儀性能優(yōu)劣取決于以下三個(gè)方面：測試重復(fù)性、測試速度以及操作難易程度。這些因素決定了實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的質(zhì)量和實(shí)驗(yàn)操作的效率。DektakXT采用全新的儀器系統(tǒng)構(gòu)造和*化的測量以及數(shù)據(jù)處理軟件來實(shí)現(xiàn)可靠、快速和簡單的樣品檢測，達(dá)到*的儀器使用效果。
優(yōu)異的測試重復(fù)性l DektakXT?探針輪廓儀ling xian的設(shè)計(jì)保證了其優(yōu)異的性能，測量重復(fù)性達(dá)到5埃以下。
l 使用單拱龍門式設(shè)計(jì)比之前的懸臂梁設(shè)計(jì)更堅(jiān)固持久不易損壞，大大降低了周圍環(huán)境中聲音和震動噪聲對測試信號的影響。
l 布魯克完善了儀器的智能化電子器件，提高了工作性能的穩(wěn)定性，降低了溫度變化對器件的影響；系統(tǒng)和環(huán)境噪音引起的測量誤差降低到最小。
