SD-300i用于測定單晶材料的表面缺陷，適用于科研、工業(yè)生產(chǎn)等需求。該儀器還是一臺半自動高精度定向儀，實現(xiàn)了缺陷和定向雙功能。
產(chǎn)品特點：
■缺陷和定向雙功能
■配有射線窗口電磁光閘和可靠的射線防護罩，確保安全使用
■表格和曲線的形式顯示，一目了然
■速度快，重復(fù)性好
■效率高，數(shù)據(jù)實時處理
技術(shù)參數(shù)：
■測試時間：1-2分鐘
■重復(fù)性精度：≤±5″。
■測角精度為±15″
■最小讀數(shù)1″
典型客戶:
臺灣及國內(nèi)藍寶石及半導體客戶廣泛應(yīng)用。
