SD-300i用于測(cè)定單晶材料的表面缺陷，適用于科研、工業(yè)生產(chǎn)等需求。該儀器還是一臺(tái)半自動(dòng)高精度定向儀，實(shí)現(xiàn)了缺陷和定向雙功能。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

■缺陷和定向雙功能
■配有射線窗口電磁光閘和可靠的射線防護(hù)罩，確保安全使用

■表格和曲線的形式顯示，一目了然

■速度快，重復(fù)性好

■效率高，數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)處理

技術(shù)參數(shù)：

■測(cè)試時(shí)間：1-2分鐘

■重復(fù)性精度：≤±5″。
■測(cè)角精度為±15″

■最小讀數(shù)1″

典型客戶:

臺(tái)灣及國(guó)內(nèi)藍(lán)寶石及半導(dǎo)體客戶廣泛應(yīng)用。