汽車芯片IC車規(guī)AEC-Q100認(rèn)證

　　AEC-Q100認(rèn)證

　　AEC-Q100對IC的可靠性測試可細(xì)分為加速環(huán)境應(yīng)力可靠性、加速壽命模擬可靠性、封裝可靠性、晶圓制程可靠性、電學(xué)參數(shù)驗證、缺陷篩查、包裝完整性試驗，且需要根據(jù)器件所能承受的溫度等級選擇測試條件。

　　需要注意的是，第三方難以獨立完成AEC-Q100的驗證，需要晶圓供應(yīng)商、封測廠配合完成，這更加考驗對認(rèn)證試驗的整體把控能力。廣電計量將根據(jù)客戶的要求，依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)對客戶的IC進(jìn)行評估，出具合理的認(rèn)證方案，從而助力IC的可靠性認(rèn)證。

　　如果成功完成根據(jù)本文件各要點需要的測試結(jié)果，那么將允許供應(yīng)商聲稱他們的零件通過了AEC Q100認(rèn)證。供應(yīng)商可以與客戶協(xié)商，可以在樣品尺寸和條件的認(rèn)證上比文件要求的要放寬些，但是只有完成要求實現(xiàn)的時候才能認(rèn)為零件通過了AEC Q100認(rèn)證。

　　Tier 1:OEM車用模塊/系統(tǒng)廠,車用電子組件的End-User.

　　Tier 2:使用/制造車用電子組件的廠商,車用電子組件的Supplier.

　　Tier 3:提供支持與服務(wù)給予電子行業(yè),車用電子的外包商.

　　AECQ100認(rèn)證測試周期：

　　3-4個月，提供全面的認(rèn)證計劃、測試、報告等服務(wù)。

　　AECQ100認(rèn)證測試地點：

　　廣電計量廣州總部、廣電計量上海試驗室。

　　測試元器件失效分析項目：

　?、傩蚊卜治黾夹g(shù)：體視顯微鏡、金相顯微鏡、X射線*、聲學(xué)掃描顯微鏡、掃描電鏡、透射電鏡、聚焦離子束。

　?、诔煞謾z測技術(shù)：X射線能譜EDX、俄歇能譜AES、二次離子質(zhì)譜SIMS、光譜、色譜、質(zhì)譜。

　?、垭姺治黾夹g(shù)：I-V曲線、半導(dǎo)體參數(shù)、LCR參數(shù)、集成電路參數(shù)、頻譜分析、ESD參數(shù)、電子探針、機(jī)械探針、絕緣耐壓、繼電器特性。

　?、荛_封制樣技術(shù)：化學(xué)開封、機(jī)械開封、等離子刻蝕、反應(yīng)離子刻蝕、化學(xué)腐蝕、切片。

　?、萑毕荻ㄎ患夹g(shù)：液晶熱點、紅外熱像、電壓襯度、光發(fā)射顯微像、OBIRCH。

　　廣州廣電計量檢測股份有限公司（GRGT）失效分析實驗室AEC-Q技術(shù)團(tuán)隊，執(zhí)行過大量的AEC-Q測試案例，積累了豐富的認(rèn)證試驗經(jīng)驗，可為您提供更專業(yè)、更可靠的AEC-Q認(rèn)證試驗服務(wù)。

　　芯片（IC）AEC-Q100認(rèn)證測試業(yè)務(wù)咨詢及技術(shù)交流：

　　GRGT李工186-2090+8348；

　　zhanghp grgtest.com

　　廣電計量檢測（GRGT）-芯片測試能力：

　　芯片可靠性驗證(RA)：

　　芯片級預(yù)處理(PC)&MSL試驗、J-STD-020&JESD22-A113；

　　高溫存儲試驗(HTSL),JESD22-A103；

　　溫度循環(huán)試驗(TC),JESD22-A104；

　　溫濕度試驗(TH/THB),JESD22-A101；

　　高加速應(yīng)力試驗(HTST/HAST),JESD22-A110；

　　高溫老化壽命試驗(HTOL),JESD22-A108；

　　芯片靜電測試(ESD)：

　　人體放電模式測試(HBM),JS001；

　　元器件充放電模式測試(CDM),JS002；

　　閂鎖測試(LU),JESD78；

　　芯片IC失效分析(FA)：

　　光學(xué)檢查(VI/OM)；

　　掃描電鏡檢查(FIB/SEM)

　　微光分析定位(EMMI/InGaAs)；

　　OBIRCH；

　　Micro-probe;

　　聚焦離子束微觀分析(FIB)；

　　彈坑試驗(cratering)；

　　芯片開封(decap)；

　　芯片去層(delayer)；

　　晶格缺陷試驗(化學(xué)法)；

　　PN結(jié)染色/碼染色試驗；

　　推拉力測試(WBP/WBS)；

　　紅墨水試驗；

　　PCBA切片分析(X-section)；