YC-680M數(shù)據(jù)線(xiàn)故障診斷綜合測(cè)試儀

Type-C和Lightning數(shù)據(jù)線(xiàn)測(cè)試儀的發(fā)明者

【關(guān)于故障診斷功能說(shuō)明】

1. 故障診斷主要是針對(duì)線(xiàn)材開(kāi)路、短路的位置做出判斷。

2. 故障診斷并不是100%準(zhǔn)確。

3. 一般0.5米以上的線(xiàn)才能比較準(zhǔn)確測(cè)出哪頭開(kāi)路、短路。

4. 情況復(fù)雜、多點(diǎn)故障可能很難準(zhǔn)確測(cè)出哪頭的問(wèn)題，因?yàn)槟硞€(gè)故障點(diǎn)可能是依據(jù)其它項(xiàng)目良好的情況下做出。

5. 有接元器件的線(xiàn)（如GND、VBUS、CC線(xiàn)）不太準(zhǔn)。

6. 使用延長(zhǎng)線(xiàn)、擴(kuò)展板，會(huì)影響診斷結(jié)果。

7. 一拖三線(xiàn)、HUB線(xiàn)可能故障診斷結(jié)果不太準(zhǔn)。

8. 插座松動(dòng)，接觸不良都會(huì)引起誤判。

9. 未知原因、軟件誤判，需要改進(jìn)升。

注意：

1. 本儀器只對(duì)上面所列項(xiàng)目進(jìn)行測(cè)試，用戶(hù)在使用過(guò)程中可能因參數(shù)設(shè)置不合理而產(chǎn)生不一樣的結(jié)果，比如設(shè)置重負(fù)載電壓大于4.5V合格，如果重負(fù)載電壓為4.4V將判為不合格，但該線(xiàn)據(jù)在真機(jī)上可能正常使用，只是充電電流有所差異罷了，所以?xún)x器判定NG的線(xiàn)，在真機(jī)上未必NG，要看具體的問(wèn)題點(diǎn)。

2. 由于線(xiàn)材分布參數(shù)、阻抗等因素影響，造成數(shù)據(jù)線(xiàn)在真機(jī)使用時(shí)通信速率變慢，或完全不能通信，本儀器并沒(méi)有模擬真機(jī)數(shù)據(jù)通信進(jìn)行測(cè)試（估計(jì)也沒(méi)有儀器能做到這一點(diǎn)），所以不能檢出這種問(wèn)題。

3. 本儀器只對(duì)充電器/數(shù)據(jù)線(xiàn)內(nèi)置芯片做部分協(xié)議的驗(yàn)證，這是因?yàn)樯秸酒桨副姸?，每種方案協(xié)議、序列號(hào)不盡相同，無(wú)法對(duì)其進(jìn)行完全驗(yàn)證，所以本儀器不適合做研發(fā)使用，只適合工廠(chǎng)檢出芯片在焊接過(guò)程中造成的開(kāi)路、短路等物理性的問(wèn)題，芯片內(nèi)的程序一般在芯片出廠(chǎng)時(shí)已校驗(yàn)。

4. 測(cè)試通過(guò)的數(shù)據(jù)線(xiàn)在使用過(guò)程中還可能因?yàn)槭褂铆h(huán)境條件惡劣而不能正常使用，比如有的芯片在低溫下無(wú)法工作。

5. 測(cè)試通過(guò)的數(shù)據(jù)線(xiàn)在包裝、運(yùn)輸?shù)拳h(huán)節(jié)受到擠壓還有可能造成損壞，比如虛焊、脫焊、短路等。

6. 有的芯片在不同電壓下工作狀態(tài)也有差異，如儀器一般用5.2V來(lái)測(cè)試，有的芯片不能工作，而插手機(jī)測(cè)試用5V又是正常的。

7. 不穩(wěn)定的線(xiàn)也可能在儀器上不能可靠檢出，比如有的線(xiàn)插真機(jī)過(guò)10幾才會(huì)出問(wèn)題，儀器上不能花如些長(zhǎng)的時(shí)間去測(cè)試。

綜上所述，本儀器不可完全替代真機(jī)測(cè)試，為了提高測(cè)試效率，我們認(rèn)為同一批材料的充電器/數(shù)據(jù)線(xiàn)特性是一致的，建議采用本儀器做基礎(chǔ)測(cè)試，再用真機(jī)抽檢。