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UTECHZONE由田 Wafer的 AOI檢測

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UTECHZONE由田 Wafer的 AOI檢測

  • 單價：
    面議
  • 可售數(shù)量：
  • 品牌名稱：
  • 所在地：
    江蘇蘇州
  • 產(chǎn)品規(guī)格：
  • 包裝說明：
  • 商品名稱：UTECHZONE由田 Wafer的 AOI檢測
  • 自定義分類：半導體材料
  • 上架時間：2024/10/14 13:49
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產(chǎn)品關鍵詞： AOI檢測,晶圓檢測,自動,

敝司代理UTECHZONE由田的晶圓檢測設備。用于Wafer的缺陷檢測。


產(chǎn)品特性：

1、高解析度CCD結合多角度燈光模組，有效檢出缺陷
2、可檢 Bare Wafer 、Pattern Wafer 、 Glass Wafer 、 Framed wafer
3、用于RDL寬度/高度、Bump寬度/高度、UBM深度…等檢測項目




產(chǎn)品關鍵詞： AOI檢測,晶圓檢測,自動,
UTECHZONE由田 Wafer的 AOI檢測
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