本系列的“雙工位測(cè)試盒”是建立在半導(dǎo)體制冷片(熱電制冷片)基礎(chǔ)上設(shè)計(jì)的高性能溫度控制系統(tǒng)，其特點(diǎn)是高精度和高穩(wěn)定度、長(zhǎng)壽命、體積小、無(wú)噪聲、無(wú)磨損、無(wú)振動(dòng)、無(wú)污染、既可制冷又可加熱等優(yōu)點(diǎn)。 控溫速度快，溫度均勻性好，常溫25℃降至-45℃時(shí)間為小于150S，遙遙領(lǐng)先行業(yè)。該設(shè)備可以廣泛應(yīng)用于光模塊、光器件及其組件、小型和微型化封裝的電子產(chǎn)品，在研發(fā)、生產(chǎn)環(huán)節(jié)的高低溫測(cè)試中。該儀器具備如下特點(diǎn)，能有效幫助企業(yè)提高生產(chǎn)效率、降低生產(chǎn)成本、提升產(chǎn)能。解決了當(dāng)前行業(yè)通用方法/儀器應(yīng)帶來(lái)的各種弊端和不足。